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Sensofar S wide：難測樣品也能輕松應(yīng)對 在光學(xué)行業(yè)檢測透明樣品（如大尺寸玻璃蓋板、光學(xué)鏡片、透明薄膜）時，傳統(tǒng)設(shè)備常因表面反光導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，而 Sensofar S wide 通過專屬光學(xué)設(shè)計，能輕松應(yīng)對這類難題，無需額外加裝復(fù)雜附件。

Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品（如電路板、光學(xué)鏡片、模具型腔）時，傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限，需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù)，不僅耗時久，還可能因拼接偏差影響結(jié)果準(zhǔn)確性。

Sensofar在半導(dǎo)體晶圓薄膜厚度測量中的應(yīng)用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學(xué)技術(shù)（共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射）實(shí)現(xiàn)對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數(shù)據(jù)輸出四個維度展開說明。